Reflektron Time of Flight(TOF) Kütle Spektrometresi

Kütle spektrometre, genel olarak manyetik veya elektrik alan kullanarak, yüklü parçacıkların kütle/yük oranına göre ayırt edilmesini, birçok bileşiğin yapısını anlaşılmasını sağlayabilen oldukça güçlü ve hassas bir sistemdir.

Farklı laser sistemleri kullanılarak ablasyona uğratılan katı malzemelerin veya iyonlaştırılan sıvı/gaz numunelerin moleküler ağırlığı ve malzemenin içeriğinin elde edilmesi için kullanılan bir sistemdir.

İçeriği bilinmeyen numunelerin içeriğinin hızlı ve güvenilir bir şekilde tayini amacıyla kullanılmakta olup halihazırda kullanılan yöntemlerle bilgi sahibi olunamaması durumunda başvurulabilecek yüksek teknolojik bir yöntemdir (Wiley ve Mclaren, 1955; Mamyrin ve ark., 1973; Ledingham ve Singhal,1997; Kilic ve ark., 1997).

Protein, DNA vb. Yüksek kütleli numunelerin kütle spektrumlarının elde edilmesi mümkündür.  Reflektron uçuş zamanlı kütle spektrometresinin kullanım alanları arasında ilaç analizi, biyomolekül karakterizasyonu, çevre analizi, adli tıpta klinik analiz ve son olarak da hastalık teşhisi gibi önemli alanlar yer almaktadır (Mamyrin ve ark., 1973).

Şekil 1. Laboratuvarımızda mevcut durumda bulunan Reflektron Time of Flight kütle spektrometresinin Solidworks programı ile çizimi

 

Kilic, H. S., Ledingham, K. W. D., Kosmidis, C., McCanny, T., Singhal, R. P. Wang, S. L., Smith, D. J., Langley, A. J., and Shaikh W., Multiphoton Ionization and Dissociation of Nitromethane Using Femtosecond Laser Pulses at 375 and 750 nm, J.Phys.Chem A, 101, 817, (1997).

Ledingham, K.W.D. and Singhal, R.P., 1997, High intensity laser mass spectrometry - A review. International journal of mass spectrometry and ion processes, 163(3), 149-168

Mamyrin, B. A., Karataev, V. I., Shmikk, D. V., & Zagulin, V. A., The massreflect ron, a new non-magnetic time-of-flight mass spectrometer with high resolution. Zh. Eksp. Teor. Fiz, 64, 82-89, (1973).

Wiley, W.C. and  Mclaren, I.H., Time of flight mass spectrometer with ımproved resolution, The Rewiev Of  Scientific Instruments, Detroit, Michigan, 1150-1157, (1955).

.

 

 

Facebook'ta Biz

Twitter'da Biz

Sitemizi Beğendiniz mi?

Ziyaretçilerimiz

BugünBugün36
DünDün26
Bu HaftaBu Hafta94
Bu AyBu Ay1938
Tüm ZamanlarTüm Zamanlar20809